多導(dǎo)毛細(xì)聚焦鍍層測厚儀采用多導(dǎo)毛細(xì)管光學(xué)系統(tǒng)，可以實(shí)現(xiàn)在ji微小樣品測試中獲得geng高的激發(fā)qiang度，同等光斑面積下，熒光qiang度是傳統(tǒng)X鍍層儀器千倍以上；geng高計(jì)數(shù)率bao zheng了儀器的準(zhǔn)確性和wen ding 性。
多導(dǎo)毛細(xì)聚焦鍍層測厚儀內(nèi)外雙激光，搭載quan zi動(dòng)高jing度樣品移動(dòng)平臺(tái)，開蓋自動(dòng)彈出功能，讓測試geng省心。雙攝廣角視頻系統(tǒng)，配備gao分辨率的攝像頭，圖像geng清晰，微小樣品jing確ding wei 、jing準(zhǔn)分析。

鍍層測試方法
X 射線熒光鍍層厚度測量是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出的2次X 射線(X射線熒光)的qiang度來測量鍍層厚度的方法。通過X 射線熒光qiang度測量鍍膜厚度的方法有檢量線法和基本參數(shù)法(FP 法)。能量色散型X射線熒光鍍層測厚儀可在不損壞樣品的情況下進(jìn)行非接觸式測量。而且測量時(shí)間較短,僅為3-20s。

產(chǎn)品特點(diǎn)
1、結(jié)合鍍層行業(yè)微小樣品的檢測需求，zhuan門研發(fā)適用于鍍層檢測的chao近光路系統(tǒng)，減少能量過程損耗。 搭載多導(dǎo)毛細(xì)管聚焦管，提升了儀器的檢測性能，聚焦qiang度提升1000~10000倍，geng高的檢測靈敏度和分析jing du 以及高計(jì)數(shù)率bao zheng測試結(jié)果的jing que 性和wen ding 性。


                       一般準(zhǔn)直器與多導(dǎo)毛細(xì)聚焦管的對(duì)比

2、全景+微區(qū)雙相機(jī)設(shè)計(jì)，呈現(xiàn)quan高清廣角視野，讓樣品觀察geng quan mian ；微米別分辨率，geng 好的man zu chao 微產(chǎn)品的測試，讓測試geng guang fan geng 便捷。

3、優(yōu)質(zhì)的多導(dǎo)毛細(xì)管技術(shù)，信號(hào)qiang度比金屬準(zhǔn)直系統(tǒng)高出幾個(gè)數(shù)量。
4、多規(guī)格可選的多導(dǎo)毛細(xì)管，較好的man zu 用戶不同測試需求。

5、gao jing 度XYZ 軸移動(dòng)測試平臺(tái)，結(jié)合雙激光點(diǎn)位定位系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)在樣品測試過程中的quan zi 動(dòng)化感受， 一鍵點(diǎn)擊，測試geng省心。
產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)品應(yīng)用行業(yè)：

 
·測量chao微小部件和結(jié)構(gòu)，如：印制線路板、連接器或引線框架等；
· 分析chao薄鍍層，如：厚度薄至2nm 的Au 鍍層和≤30nm 的Pd 鍍層；

· 測量電子和半導(dǎo)體行業(yè)中的功能性鍍層；
· 分析復(fù)雜的多鍍層系統(tǒng)；

·quan自動(dòng)測量，如：用于質(zhì)量kong zhi ling yu ；

· 符合ENIG/ENEPIG要求，符合DIN ISO 3497,ASTM B568,IPC4552和IPC4556 標(biāo)準(zhǔn)。